Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал:
https://er.nau.edu.ua/handle/NAU/25888| Назва: | Застосування цифрового мікроскопу на основі ПЗС-матриці в якості засобу вимірювальної техніки при контролі геометричних параметрів |
| Автори: | Редько, О.О. |
| Ключові слова: | решета сита оптоелектронна вимірювальна система градуювальна характеристика |
| Дата публікації: | 23-жов-2014 |
| Видавництво: | Чернігів: "Місто" |
| Серія/номер: | Фізико-технологічні проблеми радіотехнічних пристроїв, засобів телекомунікацій, нано- та мікроелектроніки: Матеріали IV-ої міжнародної науково-практичної конференції;С. 131 |
| Короткий огляд (реферат): | В завдання метрології та економіки підприємств завжди постає питання щодо зменшення вартості засобів вимірювання не витрачаючи точність визначення метрологічних характеристик об'єктів вимірювання. Для вирішення даної проблеми при атестації решет та сит на відповідність кількісного значення геометричних параметрів нормативній документації, пропонується використати доступний цифровий мікроскоп на основі ПЗС-матриці. В роботі описані основні джерела похибок оптоелектронної системи та шляхи їх компенсації. |
| URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): | http://er.nau.edu.ua/handle/NAU/25888 |
| Розташовується у зібраннях: | Матеріали наукових конференцій кафедри інформаційно-вимірювальних систем |
Файли цього матеріалу:
| Файл | Опис | Розмір | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| Чернівці-2014 Редько.pdf | Тези доповіді | 5.46 MB | Adobe PDF | Переглянути/Відкрити |
Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.