Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
https://er.nau.edu.ua/handle/NAU/25888| Название: | Застосування цифрового мікроскопу на основі ПЗС-матриці в якості засобу вимірювальної техніки при контролі геометричних параметрів |
| Авторы: | Редько, О.О. |
| Ключевые слова: | решета сита оптоелектронна вимірювальна система градуювальна характеристика |
| Дата публикации: | 23-окт-2014 |
| Издательство: | Чернігів: "Місто" |
| Серия/номер: | Фізико-технологічні проблеми радіотехнічних пристроїв, засобів телекомунікацій, нано- та мікроелектроніки: Матеріали IV-ої міжнародної науково-практичної конференції;С. 131 |
| Краткий осмотр (реферат): | В завдання метрології та економіки підприємств завжди постає питання щодо зменшення вартості засобів вимірювання не витрачаючи точність визначення метрологічних характеристик об'єктів вимірювання. Для вирішення даної проблеми при атестації решет та сит на відповідність кількісного значення геометричних параметрів нормативній документації, пропонується використати доступний цифровий мікроскоп на основі ПЗС-матриці. В роботі описані основні джерела похибок оптоелектронної системи та шляхи їх компенсації. |
| URI (Унифицированный идентификатор ресурса): | http://er.nau.edu.ua/handle/NAU/25888 |
| Располагается в коллекциях: | Матеріали наукових конференцій кафедри інформаційно-вимірювальних систем |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| Чернівці-2014 Редько.pdf | Тези доповіді | 5.46 MB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.