Застосування цифрового мікроскопу на основі ПЗС-матриці в якості засобу вимірювальної техніки при контролі геометричних параметрів

Редько, О.О.

Please use this identifier to cite or link to this item: https://er.nau.edu.ua/handle/NAU/25888

Full metadata record

DC Field	Value	Language
dc.contributor.author	Редько, О.О.	-
dc.date.accessioned	2017-04-02T15:39:15Z	-
dc.date.available	2017-04-02T15:39:15Z	-
dc.date.issued	2014-10-23	-
dc.identifier.uri	http://er.nau.edu.ua/handle/NAU/25888	-
dc.description.abstract	В завдання метрології та економіки підприємств завжди постає питання щодо зменшення вартості засобів вимірювання не витрачаючи точність визначення метрологічних характеристик об'єктів вимірювання. Для вирішення даної проблеми при атестації решет та сит на відповідність кількісного значення геометричних параметрів нормативній документації, пропонується використати доступний цифровий мікроскоп на основі ПЗС-матриці. В роботі описані основні джерела похибок оптоелектронної системи та шляхи їх компенсації.	uk_UA
dc.language.iso	uk	uk_UA
dc.publisher	Чернігів: "Місто"	uk_UA
dc.relation.ispartofseries	Фізико-технологічні проблеми радіотехнічних пристроїв, засобів телекомунікацій, нано- та мікроелектроніки: Матеріали IV-ої міжнародної науково-практичної конференції;С. 131	-
dc.subject	решета	uk_UA
dc.subject	сита	uk_UA
dc.subject	оптоелектронна вимірювальна система	uk_UA
dc.subject	градуювальна характеристика	uk_UA
dc.title	Застосування цифрового мікроскопу на основі ПЗС-матриці в якості засобу вимірювальної техніки при контролі геометричних параметрів	uk_UA
dc.type	Thesis	uk_UA
Appears in Collections:	Матеріали наукових конференцій кафедри інформаційно-вимірювальних систем

Files in This Item:

File	Description	Size	Format
Чернівці-2014 Редько.pdf	Тези доповіді	5.46 MB	Adobe PDF	View/Open

Show simple item record