Please use this identifier to cite or link to this item:
https://er.nau.edu.ua/handle/NAU/25888| Title: | Застосування цифрового мікроскопу на основі ПЗС-матриці в якості засобу вимірювальної техніки при контролі геометричних параметрів |
| Authors: | Редько, О.О. |
| Keywords: | решета сита оптоелектронна вимірювальна система градуювальна характеристика |
| Issue Date: | 23-Oct-2014 |
| Publisher: | Чернігів: "Місто" |
| Series/Report no.: | Фізико-технологічні проблеми радіотехнічних пристроїв, засобів телекомунікацій, нано- та мікроелектроніки: Матеріали IV-ої міжнародної науково-практичної конференції;С. 131 |
| Abstract: | В завдання метрології та економіки підприємств завжди постає питання щодо зменшення вартості засобів вимірювання не витрачаючи точність визначення метрологічних характеристик об'єктів вимірювання. Для вирішення даної проблеми при атестації решет та сит на відповідність кількісного значення геометричних параметрів нормативній документації, пропонується використати доступний цифровий мікроскоп на основі ПЗС-матриці. В роботі описані основні джерела похибок оптоелектронної системи та шляхи їх компенсації. |
| URI: | http://er.nau.edu.ua/handle/NAU/25888 |
| Appears in Collections: | Матеріали наукових конференцій кафедри інформаційно-вимірювальних систем |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Чернівці-2014 Редько.pdf | Тези доповіді | 5.46 MB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.