(Національний авіаційний університет, 2024-04-02) Капущак, Назар
У сучасному технологічному середовищі точність і надійність цифрових пристроїв є критичними. У даній роботі досліджується контроль метрологічних характеристик цих пристроїв, зокрема сумарної похибки, що включає в себе випадкові і систематичні складові. Робота має на меті розробити ефективні методи та засоби контролю, спрямовані на забезпечення високої точності та надійності цифрових пристроїв, враховуючи їхню специфіку застосування та потреби користувачів.
