Please use this identifier to cite or link to this item: https://er.nau.edu.ua/handle/NAU/63087
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorКапущак, Назар-
dc.date.accessioned2024-04-12T11:45:16Z-
dc.date.available2024-04-12T11:45:16Z-
dc.date.issued2024-04-02-
dc.identifier.citationКапущак Н. Система допускового контролю похибок електричних приладів // Політ. Сучасні проблеми науки: тези доповідей ХХIV Міжнародної науково-практичної конференції здобувачів вищої освіти і молодих учених. – Національний авіаційний університет. – Київ, 2024. С. 1-2.uk_UA
dc.identifier.urihttps://er.nau.edu.ua/handle/NAU/63087-
dc.description1. Маркова О., Гарюженко Л., Мельник Л. Метрологія, стандартизація та сертифікація. 2. Кирпа О. Метрологія, вимірювальні перетворювачі та вимірювальні системи. 3. Бородій М. Метрологія та вимірювання. Підручник для вищих навчальних закладів. 4. Ящук М., Кирпа В. Метрологія. Основи вимірювальної техніки.. 5. Крамаренко В. Контроль та управління якістю в електронній промисловості. 6. GhatGPT.uk_UA
dc.description.abstractУ сучасному технологічному середовищі точність і надійність цифрових пристроїв є критичними. У даній роботі досліджується контроль метрологічних характеристик цих пристроїв, зокрема сумарної похибки, що включає в себе випадкові і систематичні складові. Робота має на меті розробити ефективні методи та засоби контролю, спрямовані на забезпечення високої точності та надійності цифрових пристроїв, враховуючи їхню специфіку застосування та потреби користувачів.uk_UA
dc.language.isoukuk_UA
dc.publisherНаціональний авіаційний університетuk_UA
dc.subjectтези конференціїuk_UA
dc.subjectпохибкаuk_UA
dc.subjectкомпараторuk_UA
dc.subjectсигналuk_UA
dc.subjectцифрові пристроїuk_UA
dc.subjectконтрольuk_UA
dc.titleСистема допускового контролю похибок електричних приладівuk_UA
dc.typeOtheruk_UA
Appears in Collections:Політ. Інформаційні управляючі системи та технології проектування

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Капущак Н.pdfТези конференції164.34 kBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.