Please use this identifier to cite or link to this item: https://er.nau.edu.ua/handle/NAU/25494
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorSineglazov, Viktoren
dc.contributor.authorСинєглазов, Віктор Михайловичuk_UA
dc.contributor.authorDolgorukov, Sergiyen
dc.contributor.authorДолгоруков, Сергій Олеговичuk_UA
dc.date.accessioned2017-03-21T09:52:26Z-
dc.date.available2017-03-21T09:52:26Z-
dc.date.issued2014-09-
dc.identifier.issn1990-5548-
dc.identifier.urihttp://er.nau.edu.ua/handle/NAU/25494-
dc.description.abstractIn the article the technique of identification of the mechanical backlash of navigational equipment test table is considered as means for certification requirements verification. Identification procedures of mathematical model of mechanical backlash are considered in the dynamic oscillatory system. An algorithm for identification of backlash nonlinearity based on Hilbert transform is presented.en
dc.description.abstractПредставлено методику ідентифікації механічних люфтів випробувального стенда навігаційного обладнання. Розглянуто процедури ідентифікації математичної моделі механічних люфтів у динамічній коливальній системі. Описано алгоритм ідентифікації нелінійності типа люфт, оснований на методі, що використовує перетворення Гільберта.uk_UA
dc.language.isoenen
dc.publisherOsvita Ukrainyen
dc.relation.ispartofseriesElectronics and Control Systems;N 3(41): 104-108en
dc.subjectnonlinearityen
dc.subjectнелінійністьuk_UA
dc.titleIdentification of mechanical backlash of navigation equipment testing tableen
dc.title.alternativeІдентифікація механічних люфтів випробувального стенда навігаційного обладнанняuk_UA
dc.typeArticleen
dc.subject.udc629.735.018.006.26:629.7.05.06(045)-
Appears in Collections:Наукові публікації та матеріали кафедри авіаційних комп'ютерно-інтегрованих комплексів (НОВА)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
19.pdfОсновная статья380.68 kBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.